α1 自動化旋轉軸快速校正儀
產品檢測功能
- 旋轉軸中心誤差檢測
- 多軸同動靜態檢測
- 多軸同動動態檢測
- 背隙誤差檢測
- 迴轉軸幾何誤差檢測
目的性
提供一套光學非接觸式檢測儀器，能快速準確調校旋轉軸中心性能，使航太、電子、能源、汽車等產業的加工設備保持優異的加工精度及生產效能。
優 點
光學非接觸式校正:
- 1. 屏除接觸量測誤差。
- 2. 降低儀器碰撞風險。
智能化系統
- 引導式簡易操作:
降低操作門檻，方便自行定期對多軸工具機進行診斷及校正。 - 自動校正補償:
降低人員操作時間及輸入錯誤，減少人員培育時間。 整合國內外各大廠控制器:海德漢、發那科、西門子、工研院、PC-Based控制器。
規 格
光學非接觸式校正:
- 解析度: 0.05 µm
- 系統精度: 0.5 µm
- 工作範圍: ±100 µm
適用工具機型態
光學非接觸式校正:
適用於CNC工具機，包含龍門式、立式、臥塘式及複合加工機。
專 利
本產品已獲得台灣、美國、歐盟、日本及中國大陸之專利證明。
台灣:專利第I378843 號、美國: Patent no. : 7,852,478、歐盟: Patent no. : EP.2340914、日本: 特許第5038481 號、中國大陸:专利号： ZL 2010 1。
認 證
本系統通過FCC、CE及本實驗室通過TAF ISO/IEC 17025:2005認證
